产品目录
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- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
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- Bruker 能谱系统
- SNU
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- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
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- 二手仪器及零件
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产品详情
简单介绍:
基于电容式感技术**,MicroSense Probe 电容式位移传感器提供高准确度,高带宽测量精度电容式位移传感器设备,为满足客户高准确度的应用要求,MicroSense 优化传感器的操作性能以达到高稳定性和线性方案、高分辨率、高带宽测量方案,用于测量硬盘驱动马达,气动轴承转子,X-Y样品台**度,光盘,汽车零部件和机床等测量。
详情介绍:
精密电容式位移传感器
非接触式高分辨率近距离位移测量
MicroSense 公司(前身是ADE Technologies, KLA_TENCOR的子公司)开创了高辨率电容式位移传感器的先河,致力于为客户提供以艺术级别性能的高精度非接触式微位移传感器。
MicroSense Probe 电容式位移传感器特性
1.完全非接触式电容式微位移测量—*准确的电子感应技术, 无损样品测量
2.*优化的近距离测量—测量距离在10微米到5毫米
3.高准确性,高灵敏性测量,*高精度可达0.5nm。
4.可探测任何可传导性、接地的测量目标—表面是否抛光以及材质对测量准确度无任何影响
5.用途广泛: 金属薄片厚度测量,振动测量,工作台垂直度(Straighness)和平坦度(flatness)测量,精密马达转轴偏振测量(Axial, Radial, Spindle runout),精密仪器工作平台定 位,设备自动聚焦测量(微影设备,原子力显微镜,光罩探测,图像确认,LCD生产设备…)
测量表(Gauge)型号
4800系列 8800系列 5800系列 6800系列 6360厚度测量系统
4800系列 以*优化的线性和稳定性著称, 一款多功能测量设备
8800系列 以拥有*好的线性和稳定性系统著称,测量带宽高达20K HZ,纳米级分辨率,超低
噪声**的伺服定位反馈系统设计
5800系列 以高动态测量著称--高分辨率测量,可达100Khz 带宽测量,可靠性测量甚至达触
地物例如气动转子和马达
6800系列 拥有皮米级别噪声分辨率
Mini系列 迷你压缩型传感器测量系统
6360系列 非接触式,高精度测量硅片、CD、DVD、光盘厚度
测量探头(Probe)形状
圆柱型测量探头 45°倾角测量探头 矩型测量探头 直角型测量探头
圆柱型测量探头 探头直径0.5mm 到5mm 可选
45°倾角测量探头 可紧贴圆柱形被测物测量
矩型测量探头 测量马达及轴向转动物时可提供*大分辨率
直角型测量探头 用于测量受限空间测量
设备应用
定位测量系统应用 远程位置调节器的伺服反馈系统应用
间距和位移测量应用 空间测量及检测 轴向位移测量
转动测量系统应用 马达精度和转轴转动测量 转轴测量计精度校准测量 直线和平面平台精
度测量
厚度测量系统应用 磁性介质厚度测量 光盘厚度测量
自动聚焦和归零测量应用 半导体硅片测量
振动测量系统应用 样品台精度振动测量 转轴振动精度测量 主动性防震系统反馈测量
设备性能及主要参数
量程 ±25µm 到±1000µm满量程测量
分辨率 优于2 nm (r.m.s.) @ 1 kHz
带宽 1 kHz, 5 kHz, 20 kHz, 100 kHz 可选
MicroSense电容式位移传感器
MicroSense电容式位移传感器
MicroSense Probe 电容式位移传感器
MicroSense Probe 电容式位移传感器
MicroSense Probe 电容式位移传感器
MicroSense Probe 电容式位移传感器
MicroSense Probe 电容式位移传感器
MicroSense Probe 电容式位移传感器