产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
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- First Nano
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- Laser Prismatics
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- WestBond
- 其它
- 二手仪器及零件
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产品详情
简单介绍：
Thermo Noran - X射线金属厚度、成份测量仪
详情介绍：
世界开创光学准直器 , 光束小于50um , *小为20um
X-射线光学聚焦,可加强光强度，比传统式准直加强30至100倍，准确度加强10倍，测量时间则大幅减少80%。
配备ZOOM功能，图像可放大30至300倍。
先进FP运算功能，适合*多6层金属共30个不同元素测量，更可用较少标准片。
CXR型可升级具备wafer handler专门用于晶圆制造测试。
具备全自动XYZ轴工作平台，精度可达 +/- 5um。
为微细面积、超薄镀层、快速测试必然的选择。
主要应用：
PCB、IC substrates、Lead frame、被动组件、电镀组件、半导体组件的多层金属成份、厚度测量，如：无铅锡膏(Sn - Cu，Sn – Cu – Ag)成份、超薄 immersion金属(Au / Ni / Cu) ... 等等。
光电通讯组件、 微波RF产品 、 光纤及optical filter上之各层金属膜厚, 如 : Au, Pt, Ti, Ni ...等等。
CXR series
Model VXR