产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
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- Tau Science
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- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手仪器及零件
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产品详情
简单介绍：
Solar Metrology - X射线荧光光谱仪
详情介绍：
美国Solar Metrology – X射线荧光光谱仪(XRF) 能为薄膜太阳能行业提供成分及厚度测量
适用于软性基底（如不锈钢及塑料）及硬性基底（如玻璃）, 亦可用于
可测量钼膜层的厚度, 所有铜铟镓硒太阳能电池中的成分 (包括在硒化前, 铜铟镓的成分测量)及硫化镉缓冲层
备有多种型号可供选择: 独立式设备到可整合于生产在线的在线测量设备
在线式设备可安装于真空设备上, 数据可实时用作调整生产的依据, 减少引起的损失
设计完善, 部件都在真空舱外, 维修简单方便
隔热保护罩可选, 令设备可于300°C环境下工作
