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  • 产品名称：探测蒙皮叠边中裂纹

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  • 产品厂商：日本Olympus奥林巴斯
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简单介绍：
用于探测蒙皮叠边中裂纹的检测方案利用*先进的ECA技术探测材料表面以下的缺陷。C扫描的应用可保证更高的探出率及更好的再现性。在减少检测时间方面，这个解决方案可谓是一个巨大的进步。
详情介绍：

用于探测蒙皮叠边中裂纹的检测方案利用*先进的ECA技术探测材料表面以下的缺陷。C扫描的应用可保证更高的探出率及更好的再现性。在减少检测时间方面，这个解决方案可谓是一个巨大的进步。

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