产品名称：美国伊诺斯 Innov-X Duetto 矿物及元素物相鉴定仪

美国伊诺斯 Innov-X Duetto 矿物及元素物相鉴定仪

仅需要几分钟时间，Duetto就能提供：

A.  XRD分析矿物及物相鉴定

B.  XRF元素分析

两种技术均采用反射几何技术，无需接触物件

当X射线接触物件时，同时产生XRD和XRF信号

X射线衍射（XRD）

入射X射线照射在样品上，会在特定的角度产生与入射光能量相同的衍射信号，从而实现结晶相和矿物鉴别；

X射线荧光（XRF）

入射X射线接触到样品时，会使样品内的原子受激发产生X射线荧光，向四周发散，从而判断元素组成。

XRD有效角度=20°～55°2θ

→在机械部件与衍射角度范围之间妥协

→小角衍射需要精密控制设备与分析表面的距离

XRF能量范围=3到25KeV

Duetto由于其**的构造及可弯曲分析头，可适用于分析各种各样的样品。

将分析头放置于三脚架上，使用激光测量工具将分析头对齐到被测试物件，即可收集XRF及XRD数据。

• XRD 分辨率: 0.25°2θ FWHM

• XRD 范围: 20-55°2θ: 机械部件的妥协

• XRF 能量分辨率: 200 eV at 5.9 keV

• XRF 能量范围: 3 to 25 keV

• XRD 几何构造: 反射法

•样品要求: 平面或凸起（不限尺寸）

• X-ray 阳极材料: Co or Cu (Cu 标配)

• X-ray 射线管电压: 30kV

• X-ray射线管功率: 10W

•探测器类型: 1024 x 256 像素 - 2D 帕尔贴-自冷却 CCD探测器

•数据存储容量: 40 Gb

•无线连接: 802.11 b/g r

•电池驱动 (4 hours 支持热交换)

•工作温度: -10°C to 35°C

•尺寸: 48.5 x 39.2 x 19.2 cm 基体; 8.5 X 16 X 4 cm 头部

•重量: 12 kg 基体; 7kg 头部