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电子产品为何要在老化房内进行高温老化
电子产品为何要在
老化房
内进行高温老化试验?随着电子技术的发展,电子产品的集成化程度越来越高,结构越来越细微,程序越来越多,制造工艺越来越复杂,这使得在制造过程中会存在一些潜伏缺陷,那么引起产品的质量问题概括为以下两类:
一、产品的性能参数不达标;
二、潜在的缺陷,这类缺陷是不能用一般的测试手段发展,而需要在使用过程中逐渐被暴露,比如芯片和管壳热阻匹配**、硅片表面污染等
一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常温度下运行1000个小时左右才能被暴露,但是测试1000个小时是不现实的,因此需要对其施加热应力和偏压,也就是个电子产品施加热的、电的或者多综合的外部应力,模拟严酷工作环境,消除加工应力和残余溶剂等物质,使潜伏故障提前出现,尽快使产品进入高可靠的稳定期。
产品通过在老化房试验后,可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露,老化后再进行电气参数测量,剔除失效或变值的元器件,从而保证出厂的产品能经得起时间的考验。为了增大电子产品的使用寿命以及使用时候的手感和质地,我们必须进行高温老化。
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