X荧光光谱仪

X荧光光谱仪性能特点

专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

技X荧光光谱仪术指标

元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同) 
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限*高达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量*薄至0.005微米
分析精度：0.05% (含量高于96%以上的样品，21次测试稳定性)
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60秒—200秒 
工作温度:15℃—30℃ 
工作湿度：≤70% 
工作电压：AC 110V/220V

X荧光光谱仪标准配置

高效超薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器 
内置高清晰摄像头
光路增强系统 
可自动切换型准直器和滤光片 
加强的金属元素感度分析器 
外观尺寸： 510×589×350 mm 
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg

X荧光光谱仪应用领域

水泥检测 
钢铁和有色金属检测 
矿料分析
RoHS检测

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