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X荧光能量色散仪介绍

X- 射线荧光能谱仪介绍

自从 1895 年伦琴发现 X- 射线以来，产生的 X- 射线仪器多种多样。但是进入 80 年代，由于 20 世纪末，半导体材料和计算及技术的迅速发展，出现了 Si(Li) 探测器技术和能量色散分析技术。 *近十几年在国际上一种新的多元素分析仪器迅速发展起来。已经成为一种成熟的，应用广泛的分析仪器。他就是 X- 射线荧光能谱仪 , 全称为：能量色散 X- 射线荧光光谱仪。以下介绍一下这种仪器的情况：

一 . X- 荧光能谱技术基本理论

1 ． X- 荧光
      物质是由原子组成的，每个原子都有一个原子核，原子核周围有若干电子绕其飞行。不同元素由于原子核所含质子不同，围绕其飞行的电子层数、每层电子的数目、飞行轨道的形状、轨道半径都不一样，形成了原子核外不同的电子能级。在受到外力作用时，例如用 X- 光子源照射，打掉其内层轨道上飞行的电子，这时该电子腾出后所形成的空穴，由于原子核引力的作用，需要从其较外电子层上吸引一个电子来补充，这时原子处于激发态，其相邻电子层上电子补充到内层空穴后，本身产生的空穴由其外层上电子再补充，直至*外层上的电子从空间捕获一个自由电子，原子又回到稳定态（基态）。这种电子从外层向内层迁移的现象被称为电子跃迁。由于外层电子所携带的能量要高于内层电子，它在产生跃迁补充到内层空穴后，多余的能量就被释放出来，这些能量是以电磁波的形式被释放的。而这一高频电磁波的频率正好在 X 波段上，因此它是一种 X 射线 , 称 X- 荧光。
     因为每种元素原子的电子能级是特征的，它受到激发时产生的 X- 荧光也是特征的。
注意，这里的 X- 荧光要同宝石学中所描述的宝石样品在 X 射线照射下所发出可见光的荧光概念相区别。
2 ． X 荧光的激发源
为使被测物质产生特征 X- 射线，即 X- 荧光，需要用能量较高的光子源激发。光子源可以是 X- 射线，也可以是低能量的 γ- 射线，还可以是高能量的加速电子或离子。对于一般的能谱技术，为了实现激发，常采用下列方法。
a. 源激发
     放射性同位素物质具有连续发出低能 γ- 射线的能力，这种能力可以用来激发物质的 X 荧光。用于源激发使用的放射性同位素主要是 :  55Fe （铁）、 109Cd （镉）、 241Am （镅）、 244Cm （锔）等，不同的放射性同位素源可以提供不同特征能量的辐射。一般将很少量的放射性同位素物质固封在一个密封的铅罐中，留出几毫米或十几毫米的小孔径使射线经过准直后照射到被测物质。源激发具有单色性好，信噪比高，体积小，重量轻的特点，可制造成便携式或简易式仪器。但是源激发功率低，荧光强度低，测量灵敏度较低。另一方面，一种放射性同位素源的能量分布较为狭窄，仅能有效分析少量元素，因此，有时将两种甚至三种不同的放射性同位素源混合使用，以分析更多的元素。
b. 管激发
     管激发是指使用 X- 射线管做为激发源。 X- 射线管是使用密封金属管，通过高压使高速阴极电子束打在阳极金属材料钯上（如 Mo 靶、 Rh 靶、 W 靶、 Cu 靶等），激发出 X- 射线， X- 射线经过 (X 射线 ) 管侧窗或端窗、并经过准直后，照射被测物质激发 X- 荧光。
由于 X- 射线管发出的 X- 射线强度较高，因此，能够有效激发并测量被测物质中所含的痕量元素。另一方面 X- 射线管的高压和电流可以随意调整，能够获得不同能量分布的 X- 射线，结合使用滤光片技术，可以选择激发更多的元素。
3 ． X- 射线荧光能谱
     物质是由一种元素或多种元素组成的。当光子源照射到物质上时，物质中各种元素发出混和在一起的各自特征的 X 荧光。这些特征的 X 荧光具有特征的波长或能量，每种荧光的强度与物质中发出该种荧光元素的浓度相关。
     为了区分混和在一起的各元素的 X- 荧光，常采用两种分光技术，一是通过分光晶体对不同波长的 X- 荧光进行衍射而达到分光目的，然后用探测器探测不同波长处 X- 荧光强度，这项技术称为波长色散光谱。另一项技术是首先使用探测器接收所有不同能量的 X- 荧光，通过探测器转变成电脉冲信号，经前置放大后，用多道脉冲高度分析器（ MPHA ）进行信号处理，得到不同能量 X- 荧光的强度分布谱图，即能量色散光谱，简称 X- 荧光能谱。
4 ．能量色散 X- 荧光的探测
X- 荧光是波长极短的电磁波，为非可见光，需要使用探测器进行探测，探测器可以将 X- 荧光电磁波信号转换成电脉冲信号。
依分辨率高低档次由低至高常用的探测器有 NaI 晶体闪烁计数器，充气（ He, Ne, Ar, Kr, Xe 等）正比计数管器、 HgI2 晶体探测器、半导体致冷 Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器、高纯锗晶体探测器、电致冷或液氮致冷 Si （ Li ）锂漂移硅晶体探测器、 Ge （ Li ）锂漂移锗探测器等。
     探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。
     低档探测器有效检测元素数量少，对被测物质中微量元素较难检测，分辨率一般在 700 － 1100eV ，一般可分析材料基体中元素数量较少，元素间相邻较远，含量较高的单个元素。
中档探测器有效检测元素数量稍多，对痕量元素较难检测，分辨率一般在 200 － 300eV ，
一般用于检测的对象元素不是相邻元素，元素相邻较远（至少相隔 1-2 个元素以上），基体内各元素间影响较小。
**探测器可以同时对不同浓度所有元素（一般从 Na 至 U ）进行检测，分辨率一般在 150 － 180eV 。可同时测定元素周期表中 Na-U 范围的任何元素。对痕量检测可达几个 ppm 量级。
5 ． X- 荧光能谱定性定量分析
     对采集到的 X- 荧光能谱进行定性分析是指对 X- 荧光能谱中出现的峰��进行判断，根据能量位置确定被测物质所含的元素。
定量分析是根据被测物质中不同元素的浓度与其 X- 荧光能谱中峰的计数强度的相关关系，使用特定计算方法，根据峰的计数强度计算出元素的浓度。

二 . X- 荧光能谱仪工作原理及类型

1. 为了不同的检测目的，有各种各样的 X 荧光能谱仪 , 包括便携式荧光能谱仪可以在野外使用的简易仪器和在实验室中使用的大型仪器，其工作原理是相同的。仪器主要包括四个系统： A. X- 荧光激发源； B. X- 荧光探测器； C. 样品室 D. 信号处理、数据计算系统。
   2 ． X- 荧光能谱仪类别：
    a. 便携式荧光能谱仪，它是以同位素源为激发源，优点是体积小巧，便于携带，适用现场分析或野外和大型工件或设备上某零件的元素分析及合**号的鉴定。主要缺点是不能达到大型荧光能谱的分析精度；一般为定性半定量分析获准定量分析。目前国际上*好的便携式荧光能谱仪可同时分析包括黄金 (Au) 等 24 种元素 , 主量元素分析准确度可达 1% 以内 .
b. 小型管激发 X- 荧光能谱仪：由于探测器采用正比计数管技术，因此体积较小，优点是价格便宜，适用于单元素的高含量的分析。缺点是由于采用正比计数管技术探测器分辨率较差，因而不能对相邻元素进行分析，不能进行多元素分析，一般仅对一个元素进行半定量分析。
c. 中型管激发 X- 荧光能谱仪：采用一种 Si 探测器技术，这种探测器的分辨率一般在 200eV -280eV 。这种探测器面世约 5 年历史。主要的优点是，制冷温度约在 -30 度左右。但是探测器的分辨率和峰背比（信躁比）较差。可以用于少元素分析。通常当有相邻元素时，仪器不能分析。或者当分析元素较多，含量较低时分析比较困难。仪器通常可以用于含量较高的，分析元素数量不多的情况下。由于 Si 探测器技术是一种新的探测器技术，探测器寿命较短，通常 1-2 年。
    d. 大型 X- 荧光能谱仪：主要特点是采用 Si(Li) 探测器技术，按制冷方法可分液氮制冷和电致冷两种。仪器有很高的稳定性、很高的灵敏度、准确度和重现性，可同时分析 Na-U 的各种元素，分析的浓度从 100 ％－ ppm 级，目前世界上*好的能谱仪在分析纯水中痕量元素时可以达 ppb 级。
e. 微区 X- 荧光能谱仪：    除去上述类型的能谱仪另外，还有特殊性能的荧光能谱仪。上述的荧光能谱仪均是从事材料的平均成份分析，对材料中的夹杂物或不均匀材料或小颗粒的分析有很大的局限性。目前有一种非常成熟的能谱技术，这种能谱叫微区 X- 荧光能谱仪，它不仅可以完成一般能谱仪的平均成份的分析，又具有可变的细的 X- 光光束，可对微区进行有选择的分析。可通过精密移动样品台的对样品细小的区域进行成份分析 , 并实时给出元素的面分布图。它类同于扫描电镜或电子探针的分析 , 但又比后者灵敏度高得多。特别实用于各种不均匀材料和夹杂物的鉴定分析。微区*小区域一般可在 50 微米， 100 微米， 200 微米， 500 微米至 1000 微米（ 1 毫米）由用户任意选择。仪器同时配有 CCD 显示系统，用户可以通过监视器选择分析的区域， CCD 具有放大图像的功能，放大倍数为： 50X, 100X, 300X. 这是目前能谱仪中性能*好的，但其价格较高。

三． X- 荧光能谱仪的应用

由于 X- 射线能谱仪的操作简便，工作效率高，一般多元素样品分析时间为 2-3 分钟，仪器维护费用低，且仪器寿命长，比其他于元素分析仪器购置费用低等突出的特点。故目前的在各个行业的化学分析专业均有应用。近几年特别是在冶金行业尤为突出。如黑色，有色金属中的各种合金材料，贵金属，冶金的各种原料，矿石，铁合金类，炉渣，保护渣，耐火材料等均有良好的应用实践。（未完）
荧光能谱仪具有广泛的应用领域，在不同的领域应用显示出不同的鲜明特点。在国外化学分析领域已经得到广泛的应用。由于这是一种新的分析手段。进入中国分析仪器市场时间不长（ 1992 年以后），许多化学分析，材料分析领域的科研人员尚不熟悉。希望通过本文的介绍，可以引起科研，检验，化学分析人员的关注。

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