测量技术：
一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的**测量。
牛津仪器将*新的基于相位的电涡流技术应用到OXFORD-243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的**度。
牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应*小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。
另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。
基本配置包括：
ECP-M探头及拆除指南
Rs232串行电缆
校准用铁上镀锌标准片组
可单独选配SMTP-1(磁感应探头)
测量范围：
铁上镀层 镀层厚度范围 探头
Zn 0–38μm ECP-M
Cd ´ 0–38μm ECP-M
Cr 0–38μm ECP-M
Cu 0–10μm ECP-M
技术参数及功能：
准确度：相对标准片±3%
**度：0.3%
分辨率：0.1μm
电涡流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376
存储量：26,500 条存储读数
尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm
重量：0.26 kg 包括电池
单位：英制和公制的自动转换
接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机
显示屏：三位数LCD液晶显示
电池：9伏碱性电池，65小时连续使用
先进的ECP-M探头：ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量，铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
ECP-M探头规格(mm)
*小凸面半径
1.143
*小凹面半径
1.524
测量高度
101.6
*小测量直径
2.286
底材*小
304.8
OXFORD-243E是一款灵便、易用的仪器，专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底上所有金属镀层-即使在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位的电涡流技术。
OXFORD-243E手持式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买。OXFORD-243E免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。
牛津涂层测厚仪
牛津仪器公司提供可靠的高一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效
应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的**测量。
牛津仪器将*新的基于相位的电涡流技术应用到OXFORD-243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的**度。牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应*小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量
铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探
针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
苏公网安备 32058302001688号
