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静电放电抗干扰度试验时金属外壳接触**于系统复位

日期:2024-07-17 15:09
浏览次数:3215
摘要:
静电放电抗干扰度试验时金属外壳接触**于系统复位
现象描述
实验中有时会遇到这样的情况:在对某产品进行静电放电抗扰度试验时,当对某借口PCB(纯模拟电路)中的DB连接器外壳进行静电放电(-4KV接触放电)时,与该PCB相连(通过母板)的PCB出现复位现象,后检查该板的DB连接器,发现DB连接器的外壳没有与金属面板形成良好的连接,用导电胶将DB连接器外壳与金属面板连接后,再进行测试(-6KV接触放电),工作一切正常

处理措施
为了保证DB连接器与金属面板良好的电气连接,将DB连接器通过螺钉固定在金属面板上面,使DB连接与金属面板紧密连接,使DB连接器外壳与DB连接器外壳与该板金属面板两者之间具有良好的电连续性,这样不仅能提高整机的屏蔽效能,还能使静电骚扰电流通过金属面板及机框很快的泻放掉,使静电电荷不会在DB连接器外壳上累积,静电电压更准确,实验结果也就更具说明性,问题也就随之得到解决了。

总结:由上述可以知道,为什么静电放电测试时对接地要求特别严格,因为接地不好,相对的静电电压就不准,测试结果自然也就不准确了。所以在此提醒众多静电放电实验者,在静电放电实验前,一定要再次确认接地是否良好。
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