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IC静电放电测试之Pin-to-Pin
日期：2024-11-20 12:42
浏览次数：1823
摘要：
IC静电放电测试之Pin-to-Pin
靜電放電可能出現在IC的任何兩隻腳之間，若該兩隻腳之間無直接的相關電路，**共同使用的是VDD與VSS電源線相連接。ESD發生在不相干的兩支IC腳之間時，靜電放電電流會先經由某部份的電路跑到VDD或VSS電源線上，再由VDD或VSS電源連接線跑到另一支IC腳，再由那支IC腳流出IC之外。若每一IC的每兩腳之間都要做測試，那麼一顆40 pin的IC便要有1560種排列組合的ESD測試，這太浪費測試時間。因此，改良式的測試方法如圖3.1-2所示，即所謂的Pin-to-Pin 測試。在該Pin-to-Pin 測試組合中，亦由於靜電放電的正負極性而分成兩種測試模式 :
如上图所示，Pin-to-Pin 的靜電放電測試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現在某一I/O 腳，此時所有其他I/O 腳皆一起接地，但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接；Negative-mode:負的ESD電壓出現在某一I/O 腳，此時所有其他I/O 腳皆一起接地，但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接。
如想了解静电放电发生器的详细资料，可点击链接：www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。
靜電放電可能出現在IC的任何兩隻腳之間，若該兩隻腳之間無直接的相關電路，**共同使用的是VDD與VSS電源線相連接。ESD發生在不相干的兩支IC腳之間時，靜電放電電流會先經由某部份的電路跑到VDD或VSS電源線上，再由VDD或VSS電源連接線跑到另一支IC腳，再由那支IC腳流出IC之外。若每一IC的每兩腳之間都要做測試，那麼一顆40 pin的IC便要有1560種排列組合的ESD測試，這太浪費測試時間。因此，改良式的測試方法如圖3.1-2所示，即所謂的Pin-to-Pin 測試。在該Pin-to-Pin 測試組合中，亦由於靜電放電的正負極性而分成兩種測試模式 :
如上图所示，Pin-to-Pin 的靜電放電測試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現在某一I/O 腳，此時所有其他I/O 腳皆一起接地，但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接；Negative-mode:負的ESD電壓出現在某一I/O 腳，此時所有其他I/O 腳皆一起接地，但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接。
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