阻抗分析仪IM3570特点 ； 1.不同测量条件下，1台进行高速测量 测量电容等零部件时，有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目，1条生产线中须要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量，1台仪器即可满足所有要求。 2.检查速度提升了2倍 和HIOKI的以往型号(3532-50)相比，大大缩短了测量时间。LCR模式下，以往机型一般须要5ms的测量时间，而IM3570的检查速度提升了2倍。须要全数检查电子零部件的生产线中，IM3570发挥了作用。 3.测量的反复精度提升了1位(※1mΩ，100次测量时) 功能性高分子电容在推进低ESR化的同时，要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提升了1位
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