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阻抗分析仪IM3570 性能简介
 阻抗分析仪IM3570 性能简介 ：
 
1.不同测量条件下，1台进行高速测量  
测量电容等零部件时，有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目，1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量，1台仪器即可满足所有要求。 
2.检查速度提高了2倍(跟以往型号相比)  
和HIOKI的以往型号(3532-50)相比，大大缩短了测量时间。LCR模式下，以往机型一般需要5ms的测量时间，而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中，IM3570发挥了作用。 
3.测量的反复精度提高了1位(※1mΩ，100次测量时)  
功能性高分子电容在推进低ESR化的同时，要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位，因此为用户提供稳定测量。 
4.广范围的测量频率  
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范围内设置5位分辨率的频带(1kHz以下为0.01Hz分辨率)。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。 
5. 15种测量参数  
可测量Z、Y等15种参数，并将需要的参数读取至计算机中。 
6.具备防止误操作的接触检查功能  
装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况，因此可以避免出现未检查的产品出厂。 
7.广范围的测量电压/电流  
外加一般的开路信号发生，可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV～5V/10μA～50mA(～1MHz)以下的测量信号电平。 
8.测试线可延长至4m  
4端子的构造可降低测试线的影响，测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。 

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