阻抗分析仪IM3570特点 ； 1.不同测量条件下，1台运行高速测量 测量电容等零部件时，有时在不同条件下(频率、电平)测量多种测量项目，1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下运行高速连续测量，1台仪器即可满足所有要求。 2.检查速度提高了2倍(跟以往型号相比) 和HIOKI的以往型号(3532-50)相比，大大缩短了测量时间。LCR模式下，以往机型一般需要5ms的测量时间，而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中，IM3570发挥了作用。 3.测量的反复精度提高了1位(※1mΩ，100次测量时) 功能性高分子电容在推进低ESR化的同时，要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位，因此为用户提供稳定测量。 4.广范畴的测量频率 IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范畴内设置5位分辨率的频带(1kHz以下为0.01Hz分辨率)。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下运行测量和评价。 5. 15种测量参数 可测量Z、Y等15种参数，并将需要的参数读取至计算机中。 6.具备防止误操作的接触检查功能 装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况，因此可以避免出现未检查的产品出厂。 7.广范畴的测量电压/电流 外加一般的开路信号发生，可在恒压/恒流模式下运行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范畴的、5mV～5V/10μA～50mA(～1MHz)以下的测量信号电平。
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