Agilent 4286A RF LCR电桥表提供**、可靠的测量，以便提高电子元器件或电路设计的质量和性能。与反射测量技术不同，Agilent 4,286A使用直接的电流－电压测量技术，可在广泛的阻抗范围内提供更**的阻抗测量结果。而且，由于先进的校准技术（典型的Q精度：6% @ 100 MHz，Q=100），还可以极大地改进Q测量。因此，通过在射频范围内测量设备的真实阻抗值，您将能够显著降低设计的不确定度。 1MHz-1GHz 产品信息： Agilent4287A射频LCR测试仪 Agilent 4287A射
频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供**、可靠和快速测量，以改
进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，
采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行**测量。 生产率高，质量
可靠 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。HP4286A的测量非常
快。此外，在小测试电流(100μA)处优良的测试重复性还可以显著提高生
产率，因为所需的取平均过程非常短。 系统组建简单测试头电缆(1m或利
用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会
使误差有任何增大。内置比较器功能、高速GPIB接口和处理器接口可用来
简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室
适用于多频或阵列芯片测试。