低温试验箱适用于非散热和散热两类试验样品。考核和确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性。低温试验方法分为以下三类非散热试验样品低温试验:--试验Aa:温度突变 --试验Ab:温度渐变散热试验样品低温试验: --试验Ad:温度渐变低温试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下,如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定,则试验持续时间从试验箱达到规定试验温度时开始计算。 相关规范应规定:a)试验箱内温度变化速率;b)试验样品放入试验箱的时间;c)试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间;d)试验样品通电或加负载的时间。低温试验箱的概述 林频股份全球免费服务专线:4000-662-888在这些条件下,相关规范的制定者可根据GB/T 2424.1-1989导则选定以上4个参数(以上条件下的修订正在考虑之中)
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