产品目录

当前位置：首页 >>> 技术文章 >

技术文章

回路电阻测试仪的跳变密度

回路电阻测试仪的跳变密度
为每个LED通道提供**的驱动电流，LED因其耗电较少而使得越来越多的照明应用转变为 LEDLM3430+LM3432用于LCD显示板的4通道-6通道LED背光驱动器解决方案。通过合并各通道电流调节器回路电阻测试仪。通道偏差保持在±2.5%同时实施闭环控制以控制LED轨道电压，使功效*大化。这个解决方案对白、红、蓝、绿、黄色等所有颜色的LED都很好。
软件控制中通过片选使能端控制其工作时间。某些功能没有使用到时，②间歇性使用电路的控制。对于间歇性使用的外围电路。适时地将嵌入式处理内部电路的全部或部分关断，或者进入睡眠或待机状态，同时关闭不用的外围接口电路回路电阻测试仪电路分析，如串口、ADCDA CI2CSPIPWM等电路。
软件中也要进行初始化，③未用I0引脚的软件处理。对于未用的处理器IO引脚。若不进行初始化，将有可能会增加单片机的漏电流，*好将其设置为输入或者输出，且接一个固定的电平。
3．2．3用宏代替子程序
而子程序调用中MCU需要进行现场保护。进入子程序之前要将当前的MCU寄存器压入RA M中分配的栈，宏是编译器预处理阶段进行替代。离开的时候，要把栈中的内容弹出来恢复MCU寄存器，这样至少会带来2次对RA M操作回路电阻测试仪。尽管用宏增加了代码的长度，但是加快了代码执行的速度，对于目前很多MCU来说，代码的Flash空间根本不是大问题，这种做法将会在一定程度上降低系统功耗。外部振荡器具有很好的可配置性，为系统设计者提供了多种选择。时基信号可以从外部CMOS电平时钟源、晶振或陶瓷谐振器、RC组合电路或外部电容获得，每一种方法都有各自的优势，由于振荡器可以灵巧地在各种方式中转换，因此可以通过改变振荡器来降低功耗，对外部振荡器来说，外部CMOS时钟，电容和RC网络都能够提供较低的振荡频率。
1外部CMOS时钟
外部振荡器驱动被关闭，当工作于外部振荡器CMOS时钟模式时。电路功耗电流微小可以近似忽略，XTA L2输出的时基信号可以用作CPU计时器、PCA 或其他外围设备的时钟源，注意，即使在某一端口应用了高频信号，功耗仍只有少量的增加。要降低系统的平均功耗，需要从两个方面考虑：首先是适当调整在所有时间一直影响系统工作的参数，通常工作电压是重要考虑的参数回路电阻测试仪，工作电压决定了系统是否能够处于正常运作状态，可以由电压调整器或一个电池来提供，对于一个节能系统，工作电压应该被*小化，以节约能量。**点就是构建合理的固件结构以降低功耗，要为系统设计两个工作模式：一个为高效的运作模式；另一个则是以降低功耗为目的睡眠模式，两个模式的设计标准不同，但应尽量让系统在大部分时间内处于睡眠模式，以降低系统的总功耗，下面详细讨论这两个方面的设计。
2.1降低工作电压、减少工作电流
对于节能系统、应该尽量在保证系统**可靠的前提下采用*低的工作电压。通常电压调制器会有10%误差率，工作电压对系统的总功耗起着举足轻重的作用。因此在设计工作电压时地*低的工作电压应该为3V此时电压调制器的输出电压在2.7V与3.3V之间，也可以选择用电池。这里推荐使用锂电池，锂锰二氧化氮电池能够无须任何调节地输出稳定的2.85V电压，并且该电池能够直接连接到设备的电源引脚，无须担心电池耗尽时会对系统工作有**的影响，因此C8051F系列单片机中，片上电源监控器能够确保在电池耗尽后系统自动复位。另外，系统工作模式下回路电阻测试仪相应的度量，应用于给定电路的连续功能输入矢量具有重要的相关性，而由LFSR产生的连续测试模式之间的相关性很低。因此回路电阻测试仪，自测试期间会增加电路中节点的翻转活动，导致功耗增大。
2功耗分析和WSA 模型
从而由电路正常工作时的功能跳变所引起的包括功能跳变、短路电流、竞争冒险等。对于CMOS工艺来说，CMOS电路**耗的来源主要分为静态功耗和动态功耗两种。漏电流或从电源供给中持续流出的其它电流导致静态功耗。动态功耗则是因为短路电流和负载电容的充放电。目前动态功耗是电路功耗的主要来源。
主要功耗包括逻辑功耗、扫描功耗和时钟功耗。前面给出的方法主要集中在降低逻辑功耗或扫描功耗，扫描测试中。但没有降低时钟功耗。基于时钟的低功耗testperclock方式可以同时降低这3种功耗回路电阻测试仪。该方法采用低功耗的testper-一clockBIST结构。对LFSR进行修改后，用作TPG以生成低功耗的测试矢量。使用这种经过修改的时钟方案会降低被测电路、TPG和馈给TPG时钟树的跳变密度。通过降低被测电路、TPG和时钟树的状态转换活动率来降低BIST期间的功耗。
这种方法与采用传统扫描结构所达到故障覆盖率和IC测试时间基本一致。与传统扫描结构相比，由于来源于标准扫描结构的测试模式可直接用于低功耗扫描结构。面积开销很小，电路性能方面也没有损失。
3．2．3低功耗测试矢量生成
减少测试功耗主要通过优化测试矢量来实现，对于testperclock结构来说。而测试矢量生成技术是指产生确定性测试矢量的技术。半导体供应商推出了一大批可提高电子应用能效的产品解决方案。飞兆半导体拥有范围宽泛的解决方案，适用于各种终端应用，比如电视机、PDA 相机、白色家电、电器、CD/DVD播放器、手机、无线上网、平板显示屏、笔记本电脑、打印机和复印机；汽车点火、娱乐和车身电子；照明，电源以及电源适配器。
以满足社会对更好、更快速、更小及功效更高的应用不断增长的需求。这种经营策略让飞兆半导体稳居功率半导体全球市场份额首位回路电阻测试仪。飞兆半导体作为功率专家ThePowerFranchis致力于提供先进的产品和解决方案以及先进的封装技术。
美国国家半导体亚太区副总裁暨董事总经理祁骅天（MartinKidgel
通信与消费电子应用影响2008年半导体市场
认为LED照明回路电阻测试仪功率耗散值、视频广播、汽车电子、无线基础设施、便携式设备等5个方面的解决方案将对2008年的半导体产业产生影响。

上一篇：回路电阻测试仪数据使能
下一篇：回路电阻测试仪电路的增益

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除