1.光源：光学稳定度<=0.8%,可工作在斩波模式，适合 常规单晶、多晶、非晶硅、
CIGS、CdTe、GaAs等电池；150W氙灯或150W溴钨灯，可选配
2.测试光斑测试：3mm-8mm
3.单色仪： 三光栅DSP扫描单色仪
4.波长范围： 300-20000nm
5.扫描间隔：*小0.1nm
6.输出波长带宽：<5nm
7.多级光谱滤除装置：根据波长自动切换 消除多级光谱的影响
8.光调制频率： 4-400Hz
9.标准样品台尺寸：164mmX164mm
10.标准探测器： 标配标准硅探测器，含校正报告，标准InGaAs探测器可选配
11.偏置光源：光强可调，*高可到达一个太阳常数（选配）
12.样品*大尺寸：156mmX156mm,多种尺寸可选配
13.数据采集装置灵敏度：标配直流模式：100mA,选配交流模式：2nV
14.测量重复度：对太阳光谱曲线积分重复度性在 1%以内
15.测量速度：单次光谱响应扫描<1min IPCE完整测试<5min(步长5nm)
16.反射率测量：镜面反射：300-1100nm（选配） 漫反射300-1600nm(选配）
17.温度控制：恒温控制 25 1℃(选配）
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