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光譜型椭偏仪的範圍
    光譜型椭偏仪是壹種用於探測薄膜厚度、光學常數以及材料微結構的光學測量設備。由於與樣品非接觸，對樣品沒有破壞且不需要真空，使得椭偏仪成為壹種極具吸引力的測量設備。
椭偏仪光譜範圍
早些年，椭偏仪的工作波長為單波長或少數獨立的波長，*典型的是采用激光或對電弧等強光譜光進行濾光產生的單色光源。現在大多數的橢偏儀在很寬的波長範圍內以多波長工作（通常有幾百個波長，接近連續）。和單波長的橢偏儀相比，多波長光譜橢偏儀有下面的優點：可以提升多層探測能力，可以測試物質對不同波長光波的折射率等。
橢偏儀的光譜範圍在深紫外的142nm到紅外33µm可選。光譜範圍的選擇取決於被測材料的屬性、薄膜厚度及關心的光譜段等因素。例如，摻雜濃度對材料紅外光學屬性有很大的影響，因此需要能測量紅外波段的橢偏儀；薄膜的厚度測量需要光能穿透這薄膜，到達基底，然後並被探測器檢測到，因此需要選用該待測材料透明或部分透明的光譜段；對於厚的薄膜選取長波長更有利於測量。
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