产品目录

当前位置：首页 >>> 技术文章 >

技术文章

涂层测厚仪：

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

　　涂层测厚仪，随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用*广泛的测厚仪器。

尊敬的客户们：

您好，我司是一支技术量雄厚的高素质的开发群体，为广大用户提供高品质产品，完整的解决方案和上等的技术服务公司。主要产品有：粗糙度仪、超声波探伤仪、红外线测温仪等。

本企业坚持以诚信立业，以品质守业，以进取兴业的宗旨，以更坚定的步伐不断攀登新的高峰，欢迎顾客们放心选购产品。我们将竭诚为您服务！

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除