www.5117dxy.com 主 要 特 点 （系统介绍）: 激光光束分析仪由公司与美国SensorPhysics公司联合开发研制。是在LS-3、LS-4、LS-5等系列产品的基础上开发的*新版本。屏幕界面为英文，配有中文说明书。
基于PC机的“装配式”系统，可根据用户的需求及自有资源情况灵活配置。硬件可靠性高，软件升级方便。 以下几部分组成：
1. 基本系统：
包括专用图象采集卡及专用软件包。专用图象采集卡用于采集来自光图象探测器的模拟信号，将其变为PC机可接受的数字信号后送入PC机处理；专用软件包由“实时探测”，“存贮功能”，“分析测试”等几部分组 www.5117dxy.com 成。详细功能见软件功能。 2. 图象探测器：
根据被测激光的波长，选择适当的图象探测器的一种或几种： 标准配置：1/2英寸CCD（电荷耦合器件）探测器，光谱响应为可见及近红外波段（360nm－1100nm）
适用于大多数常用激光器，如He-Ne，Ar离子，Nd:YAG、Nd:YVO4及其倍频，半导体发光管及激光管，染料及钛宝石激光器等，这些激光器的波长均在其标配CCD的敏感波长范围内。该CCD的图像敏感面积为6.4 x 4.8 mm2。 特殊需求可选配其他规格的CCD。 其它可选图像探测器： a) 2/3“英寸CCD（360nm－1100nm，图像敏感面积8.8 x 6.6 mm2） b） 红外敏化型CCD （红外响应至1310、1650nm） c） 可见及近红外光电阴极摄像管
使用PbO，PbS光电阴极的真空摄像管作为图象探测器。适用于0.4 ～ 1.9µ波长范围的探测， 增强型可探测 0.4 ～ 2.2µ。 d) 热电型探测器（Pyroelectric）
主要用于测量CO2激光(10.6µ)及其倍频等。波长范围为0.8~ 20µ 红外激光。 3.光学暗箱 www.5117dxy.com 由于被探测的激光强度通常高出图象探测器接收灵敏度若干个量级，因此必须将被测激光强度衰减到探测器的线性工作区内，光学暗箱提供分光、衰减系统，使被测激光束无畸变地衰减到CCD的*佳响应区（线性工作区），并屏蔽来自多方面的杂散光，使其不干扰高灵敏的图象探测器。IV型光学暗箱由箱体、电源及楔形石英分束器、楔形反射器、衰减系统（固定衰减片组、连续衰减器）、光陷阱、透射屏及光学导轨等组成。 光学暗箱内主要部件有： | |
● 石英光楔分束器 利用石英光楔的内二次反射对被测光束进行前级无失真衰减（衰减率约0.15%）。由于光学级石英对被测光束的吸收小、热胀系数小，在较强激光照射下对被测光束功率/能量分布的畸变也极小，适于作为前级衰减。 ● 楔形反射镜及二维精密调节架
利用光楔的前表面反射对经前级衰减的光束进行二次衰减（衰减率约4％）及导向。 ● 中性衰减片组：包括连续衰减器和固定衰减片组 固定衰减片组：
由6片衰减片组成，其衰减倍率从0.1 到 4x10-4 ，每相邻片间衰减率约相差半个数量级。可根据测试的实际需要，在衰减片套筒内放置1个或多个衰减片，粗调衰减倍率，再由连续衰减器细调衰减倍率， 使CCD工作于线性区。 | 
| 
| 连续衰减器：
为方便衰减倍率的调节，使CCD工作在*佳线性区，IV型光学暗葙内备有连续衰减器。它由两片楔形中性吸收玻璃组成，当其中1片滑动时， 即改变光束通过两光楔的总光程， 从而可连续改变衰减率， 大大方便了*佳衰减倍率的获取。 |
● 滑轨及标尺 可使CCD和与其相关的衰减器等部件沿滑轨作整体移动（CCD与相关部件间有联锁装置），从而改变探测器在光束传播方向的位置，可测量发散角等参数。IV型暗箱内备有I，II两条滑轨。导轨I用于标准探测模式（光束经衰减射入光敏面）；导轨II适用于“透射像摄取”探测模式（适用于获取大尺寸光束图像）、“近摄装置”以及标准模式下需CCD。移动距离较长的场合。导轨II上装有备用二维调节架（可放置透镜、反射镜等元件）及透射屏架。 www.5117dxy.com 4.电脑及打印机（选件，不在标准配置内）
可选用任何可运行Windows2000/XP的台式机。打印机用于输出测试结果，如使用彩色打印机以输出彩**象效果更佳。 另外，针对小功率激光器(百毫瓦及以下)的光束质量分析，可大大简化光学暗箱结构。可采用体积小重量小、使用方便的小型暗箱。 提示：系统的图像采集卡*多可接3路图像探测器，软件亦可对来自不同探测器的信号方便切换、独立处理，故对需要经常在不同探测模式间切换的场合（如经常需要CCD等部件在导轨I，II上轮流安放），此时可选购“**导轨部件”，包括有**CCD及相关配件（不需另外镜头）、公用电源接口、信号线等。 ★可选附件――近摄装置： 本近摄装置专用于拍摄近处物体，并可得到可达1.33的放大倍数（放大倍数=像尺寸/物尺寸）。用以拍摄“光斑透射像”可以获取并处理小光束（如几十微米x几十微米）的近场像。由于这类小光斑的发散角往往较大，光强较强，故必须保证系统的“物距”足够小，衰减部件不能影响物距。本近摄装置的设计可保证满足这些条件。（本近摄装置使用“镜后衰减”和镜头光圈双重衰减，从而得到大跨度、连续的衰减） 本近摄装置配有尺寸标定胶片，用于定量标定透射光束的实际尺度。 技术指标： www.5117dxy.com 1.与PC相关的性能：
软件平台：LS-2000工作在Win2000/XP平台上；
图象采集卡：1/2 PCI卡；
图象分辨率：640x480或320x240，256色；
图象探测器的输出接口：RS-170（NTSC）
.....................CCIR（PAL) |
2.软件功能
◊图象获取功能 实时采集：可随时监测光束强度(功率、能量)的二维分布、给出三维分布图及通过光束内任一点的沿X-Y方向的光强分布曲线，并显示直径等参数。该X-Y主轴可根据需要旋转。 图象“冻结”：可根据需要捕获典型的光束图象，作为TIFF文件存贮，供分析处理。 连续及脉冲图象的“抓取”：LS-2000具有“软触发”功能，其软触发阈值可以调节。它不需要触发电脉冲，增加了使用的方便性和**性，特别是对于Q开关脉冲激光器的场合，由于不需要电脑与激光器之间的电信号相接，大大减小了硬件损坏及相互干扰的可能性。 |
◊分析测量功能
二维光束截面功率、能量分布；
光束截面功率、能量的三维图（任意方位角，俯仰角）；
通过光束截面内任一点沿X，Y方向的光强分布；
可根据实际需要旋转X-Y坐标系
不同定义下的光束直径及与高斯分布的拟和程度； ●用lS2000 可以得到的其它功能： 1. 配合激光功率计/能量计， 得到光束功率密度/能量密度的分布 用激光功率计/能量计测得光束功率/能量，用LS2000获取光斑图像，用E-table功能读出光斑总光强I，即可由每点的功率/能量读数及其实际面积换算出光束功率密度/能量密度的分布。 2. 光束参数的稳定性及条件参数对其的影响 利用LS2000连续采样功能，设置适当采样间隔及采样总数，由列表显示中可以查看每次采样间参数（如光心位置、光束直径、总光强值等）的变化，由此可评价激光器的稳定性；如果改变外界条件（如环境温度、供电电压、机械稳定性等），可以观察当外界条件变化时对光束参数的影响。 ◊其它功能
自动反差调整功能
快速连续取、放多幅图象
打印功能——将屏幕上显示的内容或被选取的部分“所见即所得”地打印出（可与激光、喷墨等多种型号打印机兼容）。 |
www.5117dxy.com | 
