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粒子成像测速定义及基本原理

发布时间:2017-12-18
粒子成像测速定义及基本原理
定义
      粒子成像测速技术是在传统流动显示技术基础上,利用图形图像处理技术发展起来的一种新的流动测量技术。综合了单点测量技术和显示测量技术的优点,克服了两种测量技术的弱点而成的,既具备了单点测量技术的精度和分辨率,又能获得平面流场显示的整体结构和瞬态图像。
      粒子成像测速,是一种用多次摄像以记录流场中粒子的位置,并分析摄得的图像,从而测出流动速度的方法。
基本原理
      在流场中布撒示踪粒子,并用脉冲激光片光源入射到所测流场区域中,通过连续两次或多次曝光,粒子的图像被记录在底片上或CCD相机上。采用光学杨氏条纹法、自相关法或互相关法,逐点处理PIV底片或CC 记录的图像,获得流场速度分布。因采用的记录设备不同,又分别称FPIV(用胶片作记录)和数字式图像测速DPW(用CCD相机作记录)。

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