层析成像系统简介
层析成像系统成像光谱技术( computed tomography imaging spectrometer,CTIS) 借用计算机断层扫描的原理, 与成像光谱技术相结合,探测目标数据立方体的一个投影或者多个投影方向的投影图像, 然后由这些投影图像重建目标的光谱信息和空间图像信息。它在光谱与图像的快速探测、无视场扫描、高通量、性能稳定等方面具有显著特征, 可应用在诸多领域。 层析成像系统按照工作模式的不同分为光栅型层析成像光谱仪和棱镜型层析成像光谱仪。前者*初由日本学者 Okamoto 提出, 然后美国亚利桑那大学的 Descour 和Dereniak 等在原理和实验上大大发展了该类型的成像光谱仪。它具有高速画幅式的突出优点, 与空间调制干涉成像光谱仪相比具有高通量的优势。后者是由美国空军基地的Mooney 等提出并发展的, 具有高通量的明显优点。它工作在凝视方式, 与时间调制干涉成像光谱仪相比缺点是光谱分辨率受限, 但能量利用率更高, 抗震性更好。
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