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相位多普勒粒子分析仪系统的原理介绍

发布时间:2020-06-03
    相位多普勒粒子分析仪(PDPA)系统基于光散射干涉测量原理设计,通过小型非侵入式光学探头进行测量。系统测量空间由两束激光交叉确定,当粒子通过测量空间时,它将光束中的光散射到位于偏离轴收集角的一个多检测器接收探头中。来自不同检测器的多普勒脉冲信号之间的相移与球形粒子的粒径成正比。

    相位多普勒粒子分析仪(PDPA)系统集成了*新采用固态激光技术的Powerlight模块。系统采用**技术、集成光学结构设计和激光,并具有经过验证的设计功能,能够为用户提供长期、可靠、用户友好且性价比高的测量服务。

    TSI的相位多普勒粒子分析仪系统能够为您提供从简单流体到高速低信噪比流体的各种测量情况下的准确可靠的流速和粒子粒径数据。系统具有高达800MHz采样率和光子计数水平灵敏度,只有TSI仪器具有这样的速度和多功能性,以满足处理PDPA测量的各种要求。TSI具有超过25年的相位多普勒和激光多普勒系统生产经验,对于TSI仪器而言,多功能性不仅是一个设计目标,而是内置已实现的功能。

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