SID4-NIR 波前传感器Phasics

SID4-NIR波前传感器

法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉**技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围**结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M?等进行实时、简便、快速的测量。

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型号 \r\n	SID4-NIR \r\n
孔径 \r\n	3.6 × 4.8 mm? \r\n
空间分辨率 \r\n	29.6 ?m \r\n
采样点/测量点 \r\n	160 × 120 \r\n
波长 \r\n	1.5 ~ 1.6 ?m \r\n
动态范围 \r\n	> 100 ?m \r\n
精度 \r\n	> 15 nm RMS \r\n
灵敏度 \r\n	< 11 nm RMS \r\n
采样频率 \r\n	60 fps \r\n
处理频率 \r\n	10 Hz \r\n
尺寸 \r\n	44 × 33 × 57.5 mm \r\n
重量 \r\n	250 g \r\n

1. 技术特点

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◆高分辨率

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◆消色差

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◆高动态范围

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◆高灵敏度

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◆操作简便

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◆设计简洁紧凑

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◆高性价比

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2.技术优势

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◆高分辨率的相位图

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能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点。高分辨率的探测器能**测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。

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◆具有直接测量高发散光束的能力

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我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。

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◆消色差

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SID4探测器能够匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准，也能用于多色光源。

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◆对准方便

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SID4传感器无需**的，很繁冗的校准步骤。分析算法为校准波前探测器提供便利。当布好探测器和光源后，光路系统测试部分可以直接放在光源和SID4探测器之间。并且，也可以很容易的调整光路系统以便于测试，还省去了使用过渡镜以及用它带来的光路位置调整和相差消除的麻烦。

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◆符合人体工程学原理

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设计紧凑的SID4探测器配置了电脑和专用KALEO软件，其友好的人机界面使光学测量过程更符合人体工程学原理。

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◆光学测量专用的KALEO软件

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SID4探测器为光学测量配置了专用的Kaleo软件。该软件允许在一次测量中提供完整的测量项目的光学量值特征：相差，PSF，MTF，有效焦距等。定制的特征报告也可编辑。

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成功案例

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单位 \r\n	型号 \r\n
深圳大学 \r\n	SID4-NIR \r\n
中国科学技术大学 \r\n	SID4-NIR \r\n
中国航天科技集团公司第504研究所 \r\n	SID4-NIR \r\n

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