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- 产品名称：光学膜厚仪
- 产品型号：G5537154215421
- 产品展商：其他品牌
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- 发布时间：2018-12-17
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简单介绍
美国光学膜厚仪，广泛应用于各种薄膜、涂层光学常数(n and k)和厚度的**测量，设备分为在线和离线两种工作模式，操作便捷，几秒钟内即可完成测量和数据分析，USB 连接计算机控制； 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、**且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
产品描述
美国光学膜厚仪，广泛应用于各种薄膜、涂层光学常数(n and k)和厚度的**测量，设备分为在线和离线两种工作模式，操作便捷，几秒钟内即可完成测量和数据分析，USB 连接计算机控制； 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、**且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。
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