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椭圆偏光膜厚测量仪(自动)

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  • 产品名称:椭圆偏光膜厚测量仪(自动)
  • 产品型号:G547836A0E887C
  • 产品展商:其他品牌
  • 产品文档:无相关文档
  • 发布时间:2018-12-17
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简单介绍
椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。 可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。 非线性*小平方法解析多层膜、光学常数。
产品描述
椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。 可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。 非线性*小平方法解析多层膜、光学常数。
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