日本kett LH-373膜厚计

日本kett LH-373膜厚计[产品打印页面]

简单介绍

日本kett LH-373膜厚计是一款主机与探头可分离设计的膜厚计，主要用于测试铝基上的膜厚。如手机铝合金外壳，铝氧化等等。日本kett LH-373膜厚计的测试原理：非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（珐琅、油漆等）

产品描述

日本kett LH-373膜厚计技术参数：

型号	LH-373
测定方法	高频涡流式
测定对象	非磁性金属基体上的绝缘层
测定范围	0-1200µm
测定精度	<50µm±1µm ，50µm-1000µm±2% ，1000µm-2000µm±3%
分辨率	<100µm为0.1µm ， >100µm为1µm
记忆数据	大约3000个
附加功能	1.程序选择 2.基体修正 3.数据删除 4.数据统计 5.设定上下限 6.数据统计（测定次数大值小值标准偏差） 7.语言选择（中、英、日、韩） 8.日期时间 9.自动关机设定 10.背景灯光选择 11.背景灯光的时间设定 12.单位 13.数据输出
测头	点触式（LHP-J）
显示方式	数字LCD显示（背光灯可自行选择开关）
数据输出	电脑输出（USB或者RS-232C)或者连接打印机
电源	4节1.5V碱性电池
存储通道	有50个通道可供选择
尺寸重量	75（W）×145（D）×31（H）mm 0.34Kg
标准配置	基体/标准片/4节碱性电池/测头/皮套
可选配置	数据管理软件（LDL-03)，不同厚度的标准片，打印机VZ-330

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