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产品资料

天星ED400涡流测厚仪[产品打印页面]

天星ED400涡流测厚仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话，可以
  • 产品名称：天星ED400涡流测厚仪
  • 产品型号：ED400
  • 产品展商：其它品牌
  • 产品文档：无相关文档
简单介绍
天星ED400涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型，仪器性能显著提高。天星ED400涡流测厚仪主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
产品描述
天星ED400涡流测厚仪
技术参数
  测量范围：   0～500 μm
  测量精度：   0～50 μm：±1 μm；

  50～500 μm：±2%
  分辨率：   0～50 μm：0.1 μm；

  50～500 μm：1 μm；

  0～500 μm：1 μm（可选）
  使用温度：   5～45℃
  外形尺寸：   150 mm×80 mm×30 mm
  重量：   280 g

 标准配置：仪器主机（含探头），校准基体，校准片，说明书，保修卡，合格证，仪器箱，第三方计量证书（校准片）。

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