日本Kett 370系列分体式膜厚仪覆层测厚仪
日本Kett 370系列分体式膜厚仪覆层测厚仪采用分体式探头，主要用于测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）以及非磁性金属上*缘层厚度.
日本Kett 370系列分体式膜厚仪覆层测厚仪根据测量基体材质不同主要有以下三种型号
LE-370：主要用于磁性金属上非磁性涂镀层厚度测试
LH-370：主要用于非磁性金属上*缘层厚度测试
LZ-370：双功能仪器，综合了LE-370与LH-370两款仪器的功能，主要用于磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上*缘层厚度测试.
日本Kett 370系列分体式膜厚仪覆层测厚仪主要特点
支持多国语言，如中、英、日、韩.
具有自动关机功能
仪器有自动背光功能，方便晚上使用
可针对不同产品保留测量通道，数据可存储，可输出*电脑
可分批统计*大值、*小值、平均值、标准差
日本Kett 370系列分体式膜厚仪覆层测厚仪技术参数
格型号
LE-370
LH-370
LZ-370
测定对象
磁性金属上非磁性涂镀层
非磁性金属上*缘层
磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上*缘层
测定范围
0～3000um 或0～120.0mils
0～1500um 或0～60.0mils
测定精度
<50um±1um , >50um±2%
分 辨 率
<100um 0.1um , >100um 1um
计量单位
公制、英制可自由切换
显示方式
LCD液晶屏
操作面板
密封防水多功能数字键盘
随机附件
基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电 源
DV6V 5#碱性电池×4个
体 积
75mm(W)×145(mmD)×21mm(H)
重 量
500g