耦合器加热用试验装置GB17465.1第18.2条、图13以及IEC60320-1第18.2条及图13的要求,用于耦合器在热条件或酷热条件下的耐热性能测试;
耦合器加热用试验装置技术参数:
1.耦合器加热用试验装置加热温度:RT常温~200℃;
2.耦合器加热用试验装置温度分辨率0.1℃,误差±1℃;
3.加热控制方式:温控表PID控制;
4.耦合器中心距:以Φ175的圆均布排列;
5.耦合器加热用试验装置计时器:1~9999h;
6.试样温度探头类型:T型;
粤公网安备 44049002000461号