产品名称：镀层测厚仪

一、XAN系列镀层测厚仪——详细介绍

        XAN系列镀层测厚仪特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该XAN系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出。

• 操作简单且性价比高。
• 自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品
• 广泛适用：为各个行业的典型需求量身定制了多种型号
• 以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析
• 带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型，可对极薄镀层及微量成分进行**测量

三、XAN系列镀层测厚仪——应用

镀层厚度测量

• 厚度仅为几纳米的贵金属镀层
• 时尚首饰：对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析
• 抗磨损镀层，如：对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量
• 测试纳米级基础金属化层（凸点下金属化层，UBM） 

材料分析

• 测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度
• 专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析
• 依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不合要求的物质（例如重金属）
• 功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量