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金属涂层测厚仪
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测厚仪的特征
测厚的特征
跟传统工艺不同,SIDSP在探测头顶部产生和控制激发信号源,回传的信号源经过32位数字转变和处置,带给您精准的涂层厚度值。此项**的数字
处置工艺,同时应用在现代通讯工艺(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转变,平均值,随机分析,等等。此项工艺能获得与模拟信号源处
理无可比拟的信号源质量和精准度。厚度值通过探测头电缆数字化传输到显示装置。
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