薄膜测厚仪主要适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片等各种材料的厚度**测量。广泛适用于质检机构、研究院校以及对薄膜厚度有严格要求的薄膜生产企业、使用单位。塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能;对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：
接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。
非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等
注：我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准，包括国家标淮，国际、美国、日本、欧洲标准等均指定采用机械式测厚中的面接触测厚的方式，同时该方法也被作为薄膜，铝箔，纸张等材料的仲裁方法。
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