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- 产品名称:薄膜测厚仪(CHY-CA型自动进样)
- 产品型号:CHY-CA
- 产品展商:Labthink兰光
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- 发布时间:2018-07-12
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简单介绍
薄膜测厚仪采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的**厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
产品描述
薄膜测厚仪(CHY-CA型自动进样)适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度**测量。了解详情请致电:济南兰光
薄膜测厚仪特 征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
自动进样
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计
显示*大值、*小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
标准接触面积、测量压力(非标可选)
显示*大值、*小值、平均值和统计偏差
标准量块标定
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜测厚仪技术指标
测量范围:0~2mm
0~6mm;12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000mm
进样速度:0.1~99.9mm/s
电 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(B)×357mm(H)
净 重:32kg
薄膜测厚仪标 准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
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