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- 产品名称：薄膜测厚仪（CHY-CA型自动进样）
- 产品型号：CHY-CA
- 产品展商：Labthink兰光
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- 发布时间：2018-07-12
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简单介绍
薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的**厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
产品描述
薄膜测厚仪（CHY-CA型自动进样）适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度**测量。了解详情请致电：济南兰光
薄膜测厚仪特 征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
自动进样
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计
显示*大值、*小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速���等参数
标准接触面积、测量压力（非标可选）
显示*大值、*小值、平均值和统计偏差
标准量块标定
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜测厚仪技术指标
测量范围：0～2mm
0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000mm
进样速度：0.1～99.9mm/s
电 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
净 重：32kg
薄膜测厚仪标 准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
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