简析TD-LTE系统测试仪表欠缺

　　新型无线技术与产品的成熟，迫切需要外场的试验环境。在外场环境中，无线资源管理算法与调度等算法可进行优化，并对无线组网性能进行验证与提高。为此，在北京郊区的怀柔和顺义相继建设TD-LTE的外场环境。每个厂家建有5个基站(每基站3扇区)。LTE是新型的无线技术，网络架构与以往系统不同，在测试中遇到一些问题和挑战

　　1.空口信令测试

　　为了降低时延，LTE采用了扁平化的架构，在无线部分只有eNodeB一个网元设备。因此3G采用的在RNC和NodeB间的Iub接口上监测空口信令的方式，不适用于LTE系统。在目前的LTE系统中，各厂家的基站普遍采用了分布式基站架构，即由BBU和RRU组成。因此LTE中空口信令的监测有两种方案：一种是利用模拟UE类工具来监测空口的协议;**种是在Ir接口上监测空口信令。在比较了这两种方案后，由于**种方案受限于Ir接口的非标性和不开放性，目前暂时没有第三方仪表，所以在测试中基本采用的是**种方案。

　　2.接口一致性测试

　　在LTE系统中，对基站有三个主要接口，分别是Uu、S1和X2接口。S1是基站和核心网之间的接口，X2是基站之间的接口。如何保证LTE基站与CN设备，以及不同厂家之间基站的互操作性，我们建立了一套接口一致性测试系统。这套测试系统是在信令仿真类仪器仪表的基础上进行二次开发而成。随着需求和产品功能的不断增加，这套测试系统的测试内容也会随之不断增加。通过这套系统也可实现测试的自动化，减少测试时间。

　　3.上行解调性能测试

　　3GPP在制定LTE的上行解调性能指标时，主要是针对2天线和4天线来制定的，没有制定8天线的性能指标。为了能够对8天线设备进行相应的性能测试，在测试前，我们联合运营商、制造商通过讨论、仿真和评估，明确了具体的测试模型、测试指标，确定了*后的测试方案，并在试验中加以验证。

　　4.TD-LTE多天线性能测试

　　在TD-LTE技术试验中，为了能对多天线性能进行必要的测试，组织了产学研用几方面共同攻关，研究确定了TD-LTE智能天线整体测试方案。这套测试系统主要是在上行和下行方向各使用了一套信道仿真模拟器，用于模拟实际的信道场景，**实现8通道信道模拟和测试系统。通过这套测试系统，可实现8通道天线性能的可复现和**定量测试。

　　在这次TD-LTE技术试验过程中，我们深刻感受到在新技术方面，系统设备的研发和成熟程度明显早于仪表。因此需要加快仪表开发以及仪表对新功能的支持响应速度。

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