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IR（红外线）观察法

发布时间：2012-05-16

硅晶片层下的半导体电路

对使用了硅片、玻璃等易透射红外线的电子设备的内部进行无损检测时，IR 观察十分有效。IR 物镜也可用于近红外线技术，如：拉曼光谱仪和YGA 激光修复应用。

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