具采用**的密封充气紫外光学系统和OPI水平观测等离子光学接口完成消除水平观测时尾焰的影响、全谱CCD技术和多视角等离子体定位等新技术，有高灵敏度、高精度以及波长范围宽（130nm-770nm)等特性，在ICP-OES领域开拓了全新的应用，可分析包括ppm级卤素在内的73个金属和非金属元素。
主要特点
1.一维色散＋32个CCD检测器设计，检测器无需超低温冷却，无需氩气吹扫保护
2.全波长覆盖，**为130－770nm的波长范围，**可以分析ppm级卤素
3.**密闭充氩循环光路系统，检测190nm以下谱线，无需气体吹扫
4.3秒实现真正全谱数据采集，分析速度*快
5.所有气体流量采用质量流量计计算机控制，矩管位置3维步进马达计算机控制自动化程度高
技术参数：
光学系统
焦距：0.75米
光谱范围：130nm – 770nm
光栅：三光栅
-3600线/毫米 (130nm – 175nm)
-3600线/毫米 (175nm – 340nm)
-1800线/毫米 (340nm – 770nm)
光谱级次：全波长**光谱
32个线性CCD连续 排列在罗兰圆上
每个CCD的像素数：3648
分辨率：8.5pm （恒定不变）
光室密闭充氩，无需吹扫（驱气）和抽真空
光室恒温: 15℃ （ 0.1℃）
-开机即可使用
- 测量130nm – 190nm波段方便快捷
信号检测与读出系统
32个线性阵列CCD
工作温度：15 ℃ （ 0.1 ℃），无须制冷，
无须吹扫保护性气流
超高速数据读取：双CPU，平行数据读出
极高的动态范围：108
*短积分时间：0.1ms
可进行瞬时信号的测量：与LC、HPLC等联机成为真正可能
决无“溢出”现象
长寿命
等 离 子 体
自激式固态发生器和电源
频率：27.12MHz
功率：750 - 1700W
功率稳定性：<0.1%
风冷
全自动控制，功率连续可调
耦合效率高
等离子体观测方式
1、等离子体水平放置，轴向观测
可有效提高仪器的灵敏度10倍，尤其对于激发电位较低的元素，如：Zn、K、Na
**的OPI技术
冷锥冷却方式：水冷，冷却效率高
计算机全自动控制冷锥与等离子体
的相对位置
氩气反吹，在保证远紫外波段的光
效率前提下，冷锥和光路（包括透
镜）无污染的可能
2、等离子体垂直放置，径向观测
等离子体垂直放置优点：
不会烧炬管
减少基体干扰
减少进样系统冲洗时间
实验成本降低
分析速度快
缺点：
对于激发电位较低的元素，如：Zn、K、Na
等灵敏度不够
针对不同用户的使用习惯和测试需求，可提供
SPECTRO ARCOS SOP（垂直炬管）
SPECTRO ARCOS EOP（水平炬管）
进样系统
四通道蠕动泵
泵速：0 ~70 RPM
连续可调
实时在线内标加入
在线稀释
耐强酸、碱等腐蚀性液体
随机附带大容量、自动报
警的废液回收器
软 件
多语言（包含中文）视窗化操作软件及手册
一键导航式操作流程，清晰、简便，易学、易用
全谱谱图自动存储，记录样品“指纹”，可进行“追忆”分析，无须保留样品和费时、
费力的再次测量
实时内标测量
定性、半定量全谱测试，可鉴别未知样品，进行“盲样”分析
可对谱图进行叠加、差减，**消除溶剂、器皿等所引入的空白与污染误差
内置NIST标准谱库，可自动进行谱线干扰识别和校正
智能逻辑校正（ ICAL）系统，可持续监控仪器的工作状况并自动校准，
确保仪器在*佳状态下运行
**的智能背景校准（Smart Background Correction)，扣除真实背景，消除误
差，分析结果准确
扣除背景的方式灵活多样
同时、实时扣除背景
单点或双点
背景曲线拟合
**的智能背景扣除（Smart Background Correction)
背景扣除真实可靠、简单实用
可在分析完成后更改背景扣除点或背景扣除方式，无须重新分析样品，减
轻操作人员的工作量