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四探针解决方案
                                                                             四探针解决方案

                                   无锡尚德太阳能电力有限公司-四探针测试仪软件测试系统专用版本1.0


                                                              薄膜方块电阻测试的*佳方案
    所有的四探针测试仪都适合用来测量薄膜的方块电阻如果被测的样品在仪器的方块电阻测量范围内。不过对于薄膜样品测试方块电阻推荐使用RTS-5、RTS-9双电测四探针测试仪，采用双电测四探针测试方法在搭配我司专用于测试薄膜的四探针探头，此四探针测试探头球形探针（探针针尖曲率半径0.5mm或0.75mm，探针间距1.6mm或3.8mm）镀金探针，有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤、刺穿；
    双电测四探针测试方法是采用了四探针双位组合测量新技术，将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上，利用电流探针电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，把采集到的数据在计算机中加以分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。
 
HP系列球形镀金探针四探针测试探头


                                  CV-2000电容电压特性测试仪搭配ST-102A探针台应用于半导体分立器件工艺监测方案
变容二极管、三极管、硅微克风等电子器件通常都在一定的直流偏置电压下才能工作，所以在一定偏压下测量其电容变化可以判断器件的质量及工艺线存在的问题。器件完成管芯后，结合我司的CV-2000电容电压特性测试仪及ST-102A探针台（中测台），可及时判断工艺过程中存在的问题，并有效防止封装后测试才能发现的隐患，节省了大量人工材料成本。

公司网站：www.wz-sanhe.net
乐清市卓盛仪器仪表有限公司
樊军飞   

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