高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围:.0 0~5000um/3000um 测量范围: F3.0 0~3000um N3.0 0~3000um 测量误差:磁感应 ±(2%+1um) 涡流 ±(2%+1um) 分辨率:0um~99.9um (0.1um),100um~999um (1um), 1000um~3000um (0.01mm) 测量原理:定制探头,磁感应+涡流效应 高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围:.0 0~5000um/3000um