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高精度大量程涂层测厚仪[产品打印页面]

高精度大量程涂层测厚仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:高精度大量程涂层测厚仪
  • 产品型号:EC770X
  • 产品展商:宇问
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围:.0 0~5000um/3000um 测量范围: F3.0 0~3000um N3.0 0~3000um 测量误差:磁感应 ±(2%+1um) 涡流 ±(2%+1um) 分辨率:0um~99.9um (0.1um),100um~999um (1um), 1000um~3000um (0.01mm) 测量原理:定制探头,磁感应+涡流效应 高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围:.0 0~5000um/3000um
产品描述

高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围:.0 0~5000um/3000um
测量范围: F3.0 0~3000um N3.0 0~3000um
测量误差:磁感应 ±(2%+1um) 涡流 ±(2%+1um)
分辨率:0um~99.9um (0.1um),100um~999um
(1um), 1000um~3000um (0.01mm)
测量原理:定制探头,磁感应+涡流效应
高精度大量程涂层测厚仪EC770X双用型测量范围:.0 0~5000um/3000um

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