N7788B/N7788BD 光元器件分析仪
回收N7788B/安捷伦N7788BD光元器件分析仪
N7788B 光元器件分析仪
N7788BD 光元器件分析仪
深圳市鸿瑞科电子仪器有限公司
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N7788B 光元器件分析仪
光元器件分析仪结合了偏振控制和偏振计，用于测量光元器件的偏振模色散（PMD）或差分群延迟（DGD）、PDL 和 IL。
主要特性与技术指标
主要优势
·通过单次扫描实现*高精度： 无需通过多次扫描计算平均值
·高测量速度
·10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量（无需等待多个平均值）
·稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响
描述
安捷伦制定了使用 N7788B 元器件分析仪进行元器件测量的限制， 其专有技术可与有名的琼斯矩阵本征法（JME）相媲美，琼斯矩阵本征法是测量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）的标准方法。
N7788BD
N7788BD 光元器件分析仪
光元器件分析仪结合了偏振控制和偏振计，用于测量光元器件的偏振模色散（PMD）或差分群延迟（DGD）、PDL 和 IL。 N7788BD 具有内置的触摸屏 PC。
描述
Agilent Technologies pushes the limits of component measurements with the N7788BD Component Analyzer. Its proprietary technology is comparable with the well-known Jones-Matrix-Eigenanalysis (JME) which is the standard method for measuring Polarization Mode Dispersion (PMD) or differential group delay (DGD) of optical devices.
Agilent’s new single scan technology offers a range of advantages to test a complete set of parameters:
·DGD/ PMD
·PDL
·Power / Loss
·TE / TM-Loss
·2nd-order PMD
·Principal States of Polarization (PSPs)
·Jones and Mueller Matrices
公司还回收以下仪器，诚信回收：
测量接收机 R&S FSMR
信号源分析仪 R&S FSUP
宽带分析仪 R&S FMU36
信号分析仪 R&S FSG
实时频谱分析仪 R&S FSVR
信号分析仪 R&S FSV
频谱分析仪 R&S FSL
频谱分析仪 R&S FSP
频谱分析仪 R&S FSH4/8
手持式频谱仪 R&S FSH3/18
频谱分析仪 R&S FSC
功率计 R&S NRP2
功率探头R&S NRP-Z
双通道功率计R&S NRVD
\功率探头R&S NRV-Z
回收N7788B/安捷伦N7788BD光元器件分析仪
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