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镀层厚度测量系统方法

镀层厚度测量系统方法适用于检验金属制品上的铜、镍、锌、镉、锡、银、铜、锡合金的镀层厚度。零件上局部镀层，在一定的压力和速度的细流状试液作用下被溶解，镀层厚度根据被检验部分镀层溶解完毕所消耗的时间来计算。

镀层溶解完的终点，可由肉眼直接观察金属特征颜色的变化或借助终点指示装置（显示镀层完全溶液瞬间电位或电流的变化）来确定。

镀层厚度测量系统特点：

1根据测量环境、测量方式量身定制测量方案，*高线性度1um，*高分辨率0.3um；

2高速在线测量，*高采样频率9400Hz；

3多点测量，一台工控机可控高达63个测厚点；

4闭环控制，可实现与现场设备无缝对接实现现场闭环控制、与现场设备联动、报警等功能，同时可联入ERP系统；

5对被测体材质颜色不敏感，颜色变化对测量结果无影响；

6系统成熟稳定基础算法有较高的可靠性，可根据具体测量环境定制新算法满足特殊要求；

7高效率，节省人力物力，提高生产品质。

镀层厚度测量系统是薄膜制造业的基础检测项目之一。薄膜其他一些性能指标都和厚度有关。很显然，倘若一批单层薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要，只有整体厚度均匀，每一层树脂的厚度才可能均匀。因此，薄膜厚度是否均匀，是否与预设值一致，厚度偏差是否在指定的范围内，这些都成为薄膜是否能够具有某些特性指标的前提。

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