近红外漫透射光谱法测完整无缺的西瓜的总糖及熟度

近红外漫透射光谱法测完整无缺的西瓜的总糖及熟度

一个无破坏性的近红外光谱法(700-1100nm)测量西瓜的内部品质，以蔡司光谱仪带一个自设计的配件作为测量工具，主要测量一个完整西瓜的总糖及内部品质，发现漫透射光谱法可测西瓜的熟度，由二阶导数的光谱值可计算总糖值。
 

作者：Ashenafi Tessema Abebe

Total Sugar and Maturity Evaluation of Intact Watermelon usingNear Infrared Spectroscopy