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边界扫描可以测试哪些东西
很多Agilent 3070的用户都有一个问题——到底Agilent 3070的边界扫描到底测量哪些东西？
今天，我就来为大家分享一下。

Agilent的边界扫描测试主要共分为：
1. 单个的边界扫描元件测试。针对单颗的边界扫描元件进行边界扫描测试。
2. 1149.1边界扫描链（Boundary Scan Chain）测试。这中间又分为：
  1）Interconnect测试：测试边界扫描链中间没有测试点的点的开短路。
  2）Bus Wire测试：测试边界扫描链中间总线（Bus）上的点的开路。
  3）Connect测试：测试边界扫描链上有测试点的点的开路。
  4）Powered Short测试：测试边界扫描链上有测试点同没有测试点之间的潜在短路。
3. Silicon Nail测试。通过边界元件来测试非边界扫描元件。
4.1149.6测试。测试1149.6元件之间的开短路（同1149.1测试有些类似，不过所测的点都是符合1149.6标准的点）和两个1149.6元件之间的电容的短路。
5. CoverExtend测试。通过边界扫描元件的TAP管脚发送信号，通过VTEP在连接器上来量测，检查边界扫描元件到连接器之间的开短路现象的测试。
6. BIST测试。通过边界扫描的TAP管脚执行元件内建的自检程序的测试。
7. PLD ISP。通过边界扫描的TAP管脚对ASIC元件烧录资料。
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