tr518fe运用更先进之零组件及软件技术所开发之新一代机种。其主要特性在于测试 速度较传统 ICT 快一倍以上。 此外，更具有可程序化开短路学习模式设定，满足各种不同待测物之测试特性。对于高针点的产品或大批量之制程，tr518fe无疑是一台抵两台的选择，无论在设备本身或治具投资上均可因此而大大降低成本。
计算机自动学习并自动产生，开/短路、 Pin Information及IC保护二极管之测试程序。
可网络联机，并结合数据库管理及测试站监控程序。
Board View 功能可实时显示**组件、针点之位置，方便检修。
大型主机设计，高密度 SwitchingBoard ，*高可达 3584 测试点。
应用IC Clamping Diode技术，可辅助检测BGA开路空焊问题。
短路、开路、元件值测试
应用CMOS切换技术，速度快且无使用寿命之限制
针对电路板残留电荷及制程中的静电，具有自动放电保护功能
应用TestJet Technology技术，可检测SMT元件开路及空焊的问题，及电容极性反向之问题
个人电脑控制，自动学习开路、短路、PinInformation及IC保护二极体
自动隔离点选择功能，可自动选择信号源及信号流入方向，自动隔离效果可达90％以上
可做Crystal之频率测试，具备1MHz信号源，可**量测1pF电容及1uH电感
对电晶体、FET、SCR等元件提供三点量测模式，并对 Photo-Coupler提供四点量测模式可测出元件反插的错误
完整测试报表及测试统计资料，资料可自动储存，断电时不致遗失
特殊测试功能，具有50-60％的电容极性反插检测率
具备电脑网路连线及Bar Code Reader 功能，以加强制程控管理
Board View图形检修辅助功能，让维修人员轻易找寻**元件位置及针点，提昇检修效益
具远端遥控功能，可在不同地点了解并控制测试现场之状况