常规涂层测厚仪原理：
对材料表层保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、 贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层。 覆层厚度量测已成为加工工业、表层工程品质检查的重要一环，是产品达到优等品质标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。 覆层厚度的量测方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差量测法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性量测法及涡流量测法等。这些方法中前五种是有损检查，量测手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损量测，但装置复杂昂贵，量测范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层量测。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。