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低频大功率晶体管fT测定仪
NIQJ-30低频大功率FT测试仪|低频大功率晶体管fT测定仪产品简介：
仪器是测量NPN，PNP型大功率晶体管特征频率fT 设备，测量频率为0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz四个点频，测量范围为0.3MHz-100MHz并能在上述点频测量器件之高频正向共发射电流增益hfe。本仪器由主机和三个测试盒组成，可测F1、F2、F3、F4、G3、G4六种管壳的低频大功率管，外接偏置高压电流源之偏置范围为0-50V，0-5A。
低频大功率fT测试仪性能指标：
测量频率：0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz误差：≤±1×10-4、稳定度：≤±5×10-4小时
测试接收机中心频率：0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz误差：≤±1×10-4，灵敏度：≤150μV
高频衰减器衰减量及工作误差：
档 hfe：3   9.54db±0.5db
**档 hfe：10  20db±0.1db
第三档 hfe：30  29.54db±0.2db
测试回路恒流阻抗：≥2KΩ
fT测量范围：额定范围     **范围
fM=0.3MHz   0.3MHz-3MHz  0.6MHz-2.4MHz
fM=1.0MHz   1.0MHz-10MHz 2MHz-8MHz
fM=3MHz     3.0MHz-30MHz 6MHz-24MHz
fM=10MHz    10MHz-100MHz 20MHz-80MHz
高频正向共发射短路电流放大系数模︱hfe︱测量范围：2-30
特征频率fT测量误差：≤±10%
高频正向共发射短路电流放大系数模︱hfe︱测量误差：≤±10%
外接偏置电压、电流范围和精度要求：
电压范围：0-50V
电压精度：≤±2.5%
电流范围：0-5A
电流精度：≤±2.5%
校准误差：≤±2×10-2小时
适应管型：F1、F2、F3、F4、G3、G4
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