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晶体管开关时间测试仪
NIB-2961A晶体管开关参数测试仪|晶体管开关时间测试仪产品简介：
测试中小功率半导体三管开关参数，功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。
Td延迟时间
tr被测晶体管上升时间
ton晶体管开启时间
ts存贮时间
tf被测晶体管下降时间
toff晶体管下降时间
晶体管开关参数测试仪主要参数：
测量范围：由5nS至500 nS
测量条件
Ib1=Ib2=1mA,  Ic=10 mA
 2) Ib1=Ib2=3mA，Ic=300 mA
 3) Ib1=Ib2=10mA，Ic=100 mA
 4) Ib1=Ib2=30mA，Ic=300 mA
 5) Ib1=Ib2=50mA，Ic=500 mA
脉冲宽度：0.7-2.5uS
±脉冲**：≤2nS
±脉冲幅度：±10V±0.5V
信 号 源：频率20K
示 波 器：带宽: 1000MHz
扫        速：20nS/cm . 50nS/cm . 100nS/cm 200nS/cm
CRT显示输入/输出波形 计算机显示测量参数及测量结果。
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