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半导体热电特性综合实验仪
1.热电制冷器工作特性研究；
2.半导体热电材料的珀尔帖效应进行制冷或制热特性；
3.塞贝克效应；
4.半导体热敏电阻特性的研究；
5.金属电阻温度系数的测定；
6.PN结正向压降与温度关系的研究和应用；
7.电阻温度计与非平衡直流电桥。
规格参数：
仪器主要由控温仪、半导体致冷堆组件组成；
高精度数字智能化恒温控制，温度控制范围：加热范围：室温-120℃；致冷范围：-10℃--15℃，控温精度:0.1℃，恒温稳定度：±0.1℃；
数字温度传感器：-50-125℃，精度±0.1℃，数显
电流测量范围：0-2.400，测量精度：1mA
电压测量范围：0-24.000V, 测量精度：1mV
恒流源：0--1000uA
配PN结
配半导体热敏电阻
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