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模拟静电场描绘仪原理
导电微晶法静电场描绘仪是由导电微晶、双层固定支架、同步探针等组成；支架采用双层结构，上层放记录纸，下层放导电微晶。电*已制作在导电微晶上，并将电*引线接出到外接线柱上，电*间制作有导电率，小于电*且向均匀的导电介质。接通直流电源可以进行实验。在导电微晶和记录纸上方有一探针，通过金属探针臂把两探针固定在同一手柄座上，两探终保持在同一铅垂线上。移动手柄座时，两探针的运动轨迹是一样的。由导电微晶上方的探针找到待测点后，按下记录纸上方的探针，在记录纸上留下对应的标记，移动同步探针在导电微晶上找出若干电位相同的点，由此可描绘出等位线。
实验目的：
模拟法测绘静电场；
采用导电微晶法，电阻微晶结构；
规格参数：
双层结构，约200mm*90mm
描绘平台：约200mm*200mm*4mm，电*可*换；
激光描点，激光电源，功率2mw，波长625nm
弹性探头，接触电阻小，接触稳；
电*数量：2个；同轴电缆、平行板电容（还可选配3个：点与平板、平行导线、**）
电阻微晶：约125mm*125mm*0.2mm均匀、耐磨；
电*规格：约200mm*150mm*3mm（不容易破损，减少玻璃易破的确点）
电压输出：DC 0-12V数显，连续可调；
精度范围：0.01V，短路保护功能；
配电阻微晶导电微晶电*板：同轴电缆、平行板电容，电*板可*换。
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